| 产品特性：大型长方形 | 是否进口：否 | 产地：江苏 |
| 加工定制：是 | 品牌：ELITE | 型号：XAD-μ |
| 光源：*** | 波长范围：0.01-20nm | 焦距：0-90mm |
| 外形尺寸：705mm*825mm*660mmmm | 重量：195KGg | 适用范围：电子精密 |
| 规格：705mm*825mm*660mm |
XAD-μ是一款专用于超小测量点或极薄涂层的分析测量的仪器，在柔性电路板、芯片封装环节、晶圆微区的镀层厚度和成分自动测试分析中尽显优势。
可以测量微电子设备、***线路板、连接器、引线框架和晶片的超微小区域。
1）搭载微聚焦加强型***发生器及***、***的多导毛细管技术，测量直径小至10μm
2）全景+微区双相机设计，观察样品更为全面，微区小至微米级别的分辨率，实现更快速便捷的测试
3）基于EFP算法的***膜厚测量软件EFP-T，支持基于标样的定量分析，支持无标样定性分析，可同时分析23个镀层，24种元素
4）DPP-FAST SDD，优于125eV
5）测量元素范围：铝Al（13）-铀U（92）
6）涂镀层分析范围：锂Li（3）-铀U（92）
7）安全互锁、防夹手及Z轴防碰撞设置，V区激光保护，保护测量头的同时，化测量距离，可测样品类型范围更广
8）配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，对成百上千个样品进行全自动检测
